Электронный микроскоп FEI (Нидерланды)
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Phenom позволяет получать изображение поверхности образца с очень большим разрешением.
Он предназначен для проведения исследований микро- и наноструктур поверхности исследуемого образца. Так возможно изучение морфологии поверхности, проведение измерений размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нанообъектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до десятков нанометров с увеличением до 24,000х. FEI Phenom обеспечивает связующее звено между электронной и световой микроскопией, предлагая лучшее от обеих путем комбинации световой и электронно-оптической технологий в одну интегрированную, легкую в обращении микроскопную систему.
Основные технические характеристики:
- Диапазон увеличения: 20х – 24,000х
- Пространственное разрешение – 30 нм
- Источник электронов – кристалл CeB6
- Ускоряющее напряжение электронов – 5 кВ
- Рабочее давление – 10 мкПа
- Хранение информации – USB 2.0 Flash Drive
- Время загрузки образца: менее 30 сек
- Размер образца (диаметр — высота) – вплоть до 25 мм в диаметре и до 35 мм в толщину
- Управляем через сенсорный монитор
- Опции формата изображения: JPEG, TIFF с разрешением до 2048*2048 пикселей
- Габариты и вес модуля получения изображения: 286 х 566 х 495 мм; 52 кг. (помещается на поверхности стола).
Области применения:
- Производственный процесс и контроль качества.
- Применение в металлургии.
- Интегрированное обучение.
- Фармацевтическая промышленность.
- Исследовательские лаборатории.