Электронный микроскоп FEI (Нидерланды)

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Phenom позволяет получать изображение поверхности образца с очень большим разрешением.

Он предназначен для проведения исследований микро- и наноструктур поверхности исследуемого образца. Так возможно изучение морфологии поверхности, проведение измерений размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нанообъектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до десятков нанометров с увеличением до 24,000х. FEI Phenom обеспечивает связующее звено между электронной и световой микроскопией, предлагая лучшее от обеих путем комбинации световой и электронно-оптической технологий в одну интегрированную, легкую в обращении микроскопную систему.

Основные технические характеристики:

  1. Диапазон увеличения: 20х – 24,000х
  2. Пространственное разрешение – 30 нм
  3. Источник электронов – кристалл CeB6
  4. Ускоряющее напряжение электронов – 5 кВ
  5. Рабочее давление – 10 мкПа
  6. Хранение информации – USB 2.0 Flash Drive
  7. Время загрузки образца: менее 30 сек
  8. Размер образца (диаметр — высота) – вплоть до 25 мм в диаметре и до 35 мм в толщину
  9. Управляем через сенсорный монитор
  10. Опции формата изображения: JPEG, TIFF с разрешением до 2048*2048 пикселей
  11. Габариты и вес модуля  получения изображения: 286 х 566 х 495 мм; 52 кг. (помещается на поверхности стола).

Области применения:

  1. Производственный процесс и контроль качества.
  2. Применение в металлургии.
  3. Интегрированное обучение.
  4. Фармацевтическая промышленность.
  5. Исследовательские лаборатории.